EQUIPMENT（研究機器）
| 電子顕微鏡 | 原子間力顕微鏡 | 光学顕微鏡，実体顕微鏡 | 製膜装置 | その場力学試験装置 | ３Dプリンタ関連 | 引張試験機関連 | 電気測定装置関連 | 恒温槽，恒湿槽 | 試験片洗浄機器 | 位置決め装置 |
透過型電子顕微鏡（TEM），走査型電子顕微鏡（SEM）
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| TEM（日本電子製JEM-2100） |
| ・TEM用カメラ：EMSIS製MegaView G3 |
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SEM（Hitachi High-Tech製SU3900） ・真空計：キヤノンアネルバ製M601GC ・ビームブランキング装置：DEBEN製PCD BEAM BLANKER ・ピコアンメータ：KEITHLEY製6485 |
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SEM・集束イオンビーム複合装置 （Thermo Fisher Scientific製Scios 2） ・ガスインジェクション装置：Thermo Fisher Scientific製ガスインジェクションシステム（Pt） ・検出器：Thermo Fisher Scientific製T3検出器 ・アダプタ：ユニソク製力学試験装置取り付け用フィードスルー ・デコンタミネータ：Xei Scientific製Evactron E50 |
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原子間力顕微鏡（AFM）
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AFM（Hitachi High-Tech製AFM5300E） ・100 Vバイアス：Hitachi High-Tech製E-BIAS Ⅱ |
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光学顕微鏡，実体顕微鏡
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| デジタルマイクロスコープ（HiROX製KH-8700） |
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| 実体顕微鏡 | デジタル顕微鏡 |
| （Nikon製SMZ745T） | （Nikon製SMZ745T） |
製膜装置
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| マグネトロンスパッタリング装置（エイコ―製） |
その場観察力学試験装置，TEM試料ホルダ
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| SEM用二軸微小負荷装置 | SEM用微小負荷装置 |
| (ユニソク製) | (ユニソク製) |
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| SEM用微小負荷装置 | SEM用引張試験装置 |
| (Bruker製Hysitron PI-80 Picoindenter) | (DEBEN製MT200) |
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| TEM用微小負荷装置 | TEM用試料2軸傾斜ホルダ |
| (Bruker製Hysitron PI-95 Picoindenter) | (日本電子製EM-31631STH) |
3Dプリンタ関連
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| デスクトップ3Dプリンタ | フィラメント乾燥機 |
| (Raise 3D Technologies製E2) | (EIBOS 3D製Filament Dryer CYCLOPES) |
引張試験機関連
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| 卓上型引張圧縮試験機 | 動ひずみアンプ |
| (エー・アンド・デイ製 MCT-1150) | (共和電業製DPM-951a) |
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| 微小荷重用ロードセル | |
| (共和電業製LTS-50GA) |
電気測定装置関連
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| デジタルロックインアンプ | 低雑音プリアンプ |
| (NF回路設計製LI5660) | (NF回路設計CA5360) |
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| ストレージオシロスコープ | 波形発生器 |
| (AS ONE製DSO3050E) | (AS ONE製AWG1005) |
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| マルチメータ | |
| (Keysight Technologies製34461A) |
恒温槽，恒湿槽
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| ベルジャー型バキュームオーブン | 小型プログラム電気炉 |
| (柴田科学製BV-001) | (AS ONE製ROP-001H) |
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| 恒湿槽 | |
| (トーリ・ハン製WET-82) |
試験片洗浄機器
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| 超音波洗浄器 | 小型卓上UVオゾン洗浄装置 |
| (AS ONE製VS-100Ⅲ) | (あすみ技研製ASM401N) |
位置決め装置
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| ナノポジショニング ピエゾ コントローラ |
| (Physik Instrumente製E-625 Piezo Servo Controller) |